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X射线光电子能谱(XPS)在摩擦学研究中的应用
2010-07-19 | 【】【打印】【关闭】                

摘要:X射线光电子能谱(XPS)是最常用的表面分析技术之一,在材料的摩擦化学、摩擦和磨损机理以及材料失效等研究方面发挥着重要作用。本文综述了XPS的基本原理、设备构成、分析特点及在润滑油添加剂的吸附与反应、聚合物填料、气相润滑和离子液体等摩擦化学研究中的应用,希望为摩擦学者在表面分析方法方面提供一些新的启示。

关键词:X射线光电子能谱(XPS);表面分析;新生面;摩擦化学

作者   单位

丛培红  复旦大学高分子科学系 聚合物分子工程教育部重点实验室,上海 200433  

吴行阳  上海大学 机电工程与自动化学院,上海200072  

孙畅   复旦大学高分子科学系聚合物分子工程教育部重点实验室,上海 200433 

E-mail:congph@fudan.edu.cn

《摩擦学报》,2010,30(1):97~104

来源:
评 论
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